简介：

可用于野外或实验室对种子大米外观形状的分析。主要是分析评价各类大米（籼米、粳米、籼糯米、粳糯米，特种米、有机米等）、各类种子（玉米、大小麦、谷粒、豆类、瓜果籽、蔬菜种子、小米、芝麻、花种子，以及极细小的拟南芥籽等）。可一次扫描成像就分析出：粒形（直径、长度、宽度、长宽比、面积）、整精米数量、整精米率、大米透明度、垩白率、垩白度、千粒重、碎米率、不完善率（黄粒米、未成熟粒、杂质），包括从外观上自动分析稻谷霉变率。与国标GB/T1350稻谷、GB/T17891优质稻谷或GB1354大米相对应，能检测各项指标的重量比和粒数比。还可快速进行稻种等的考种计数。可自动分析玉米在棒截面、粒形上的各参数。广泛适用于种子、品种质量监管和品种选育相关的研究部门，提高工作效率。

性能优点：

（1）专有的向导学习，使非专业者快速上手。能准确地自动分割团状粘连的种子图像，自动计数精度≥99%，监视修正<1%，即达100%正确。
（2）适应检测种粒直径0.25～20mm，计数速度为20～300粒/s（具体参见【万深】http://www.wseen.com的[性能PK台]）。
（3）可裁剪掉污染目标区，能根据种子形态、大小差别，自动剔除杂质等，并导出为EXCEL表以便形成统计分布图。
（4）可任意组合的批操作向导，实现一键自动完成计数。清晰、可直观验证的计数自动标记，可自由选择标记数字/符号，及标记的颜色、大小。
（5）种子图像、检验结果可保存或导出到EXCEL表，满足日常搜索、管理的需要；可存储种子图像及全部统计结果，免除了繁琐的记录工作，避免错误。
（6）提供条码输入接口，插上条码枪即可输入条码。保证卓越性能前提下，不仅提供最优秀产品，还提供最优解决方案，让您满意。

技术参数：

1.快速形态分析：40秒内自动精准分析测出每粒种子的各面积、长径、短径、长宽比、圆度、等效直径（长度测量误差≤±0.1mm，长宽比测量误差≤±0.05，重现性误差≤±0.02mm），自动获得每粒种子的外观形状参数，以及千粒重、大米整精米粒数、整精米率（35g样本的测量误差≤±1.0%，重现性误差≤±0.25%）、垩白度、垩白粒率（35g样本的测量误差≤±1.0，重现性误差≤±0.5）、大米透明度（35g样本的测量误差≤±5.0%，重现性误差≤±0.5%）、碎米率、不完善粒（黄粒米、未成熟粒、杂质）。可自动分割粘连种子、自动剔除微小杂质和错误目标，可选择区域统计。还可分析大米的碾米精度，以及裂纹率。稻种等的考种计数正确率，经极快速地可视化验证后，可达100%正确。
2.具有对被分析目标颜色、形状进行自动学习，并实现自动分类的特性。可任意组合的批操作向导，实现一键自动完成计数与各项分析，并实现鼠标增减统计、区域选择统计、辅助裁剪修正、种子粘连分割、输入重量后自动换算得千粒重 等；可裁剪或擦除掉污染目标区，删除任意区域内的误选种子。可合并误分割，以及对自动识别后的黄米粒和其它目标做类别转换修正。
3．具有样本条码、电子天平RS232重量数据的自动输入接口，电脑插上条码枪即可刷入样本编号；在电子天平加上被测样本，一旦稳定即出重量数据和千粒重数据，不需按天平的打印键。能折算掉混入的秕谷重量，自动算出实粒千粒重。能自动测出参数比较特别玉米穗长、穗粗、秃尖长、左右穗缘角、穗行角、平均行粒数、粒厚、粒数、粒形、截面穗行数、穗粗、轴粗，以及截面上的平均粒长、平均粒宽参数等。
4．测量功能：
尺寸标定：自带标定功能，实现半自动的尺寸标定，XY向可分别标定修正；
长度测量：具有跟随放大镜功能，通过鼠标拖动精确测量；
可以单独进行目标的长度测量
5．数据存储：图像可保存（可保留原图/结果图）；自动形成总报表，统计分析结果能输出至Excel表；
6．仪器规格与配置：
大米分析专配光学分辨率4800×9600、A4加长的Microtek ScanMaker i800真彩双光源扫描仪（电脑另配）；
或对各类种子分析选配光学分辨率4800×9600、Epson V33 Photo真彩扫描仪、带RS232接口的电子天平（电脑另配）；

●下载《SC-E、SC-G和SC-A型种子大米自动数粒分析仪、千粒重仪》参数