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选【万深检测】SC系列种子大米自动数粒分析仪，理由是什么？ |
| 答： |
1.该数粒分析仪的显著优点是：快捷、准确、简便。
2.专有向导学习功能，使非专业者快速上手。能准确地自动分割团状粘连的种子图像，自动计数精度最低≥99%，监视修正< 1%，即达100%正确。
3.适应种粒直径0.3~15mm，计数速度为20～300粒/s（具体参见我们http://www.wseen.com 的[ PK台]），每小时最快计数300盘。
4.可裁剪掉污染目标区，能根据种子形态、大小、颜色差别，自动剔除杂质等，并给出多种统计分布图。
5.均匀立体背光成像方式（专利号200620107357.0），保证能达到最清晰的成像效果。
6.可任意组合的批操作向导，实现一键自动完成计数。清晰、可直观验证的计数自动标记，可自由选择标记数字/符号，及其颜色、大小。
7.种子图像、检验结果可保存或导出到数据库，并形成PDF、EXCEL、WORD报告，满足日常搜索、管理的需要；可存储种子图像及全部统计结果，免除了繁琐的记录工作，避免错误。
8.保证卓越性能前提下，不仅提供最优秀产品，还提供最优解决方案，让您满意。 |
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万深检测SC系列种子大米自动数粒分析仪计数的准确度如何？ |
| 答： |
SC系列具有世界领先的多种专有图像处理算法，自动计数精度保持在99%以上，人工监视修正<1%，即能获得100%正确。自动考种的精度在0.2%以内，快速监视得100%正确。 |
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如何客观地考核SC系列种子大米自动数粒分析仪的性能？ |
| 答： |
每套软件光盘中至少有20张不同类型高分析难度的种子、稻米图像，其分析速度和准确度公布在www.wseen.com的PK台中，用户可考核万深检测SC系列自动种子数粒分析系统是否符合上面的速度、准确度指标，达到后验收。用于评价性能的高难度分析图像，将随着用户的不断提供而成倍增加，您可在对应全部图像的计数性能及种子外观检测性能达到指标后验收，以使评价更客观。 |
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万深检测SC系列种子大米自动数粒分析仪统计速度有多快？ |
| 答： |
对于2mm直径以内的种子，最快只需计算2秒便完成300粒计数；采用【批量分析处理】模式，每小时最快完成300个样品的数粒分析。 |
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万深检测SC-I型种子大米自动数粒分析仪的基本工作步骤如何？ |
| 答： |
第1步，将种子存放平皿放在背光的拍摄平台上，打开分析仪上的光源，运行【种子大米自动数粒分析仪分析软件】；
第2步，点击软件中左上角的[联接]图标，便立即看到种子图（[联接]图标被自动换成[拍照]图标）；
第3步，点[拍照]图标后1秒钟，即可选择感兴趣分析的种子区域；
第4步，点选种子分析软件的相应按钮，或点选“一键操作”按钮，进行自动计算；
第5步，自动在结果栏中分类显示出种子计数，并标记在屏幕上；
第6步，如果需要，可直接点[报告]图标打印结果，或点[数据表]图标查看导出的统计分析结果。 |
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万深检测SC系列种子大米自动数粒分析仪能组合成为多功能机吗？ |
| 答： |
能。万深检测SC系列种子大米自动数粒分析仪可与显微图像成像环境、高清晰度电子目镜、三目生物显微镜组合成为多功能机。使之具备：种子统计、显微分析测量等多种功能，满足专业检验多方面的需求，减少重复购置设备造成的浪费。 |
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万深检测SC系列种子大米自动数粒分析仪能分析哪些种子？ |
| 答： |
可用于等效直径在0.3mm到15mm的各类表面光滑种子计数或稻米外观分析。若是扁平形式、厚度不超过15mm的种子，其被测的等效直径可达50mm。 |
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万深检测SC系列种子大米自动数粒分析仪能否分析种子的形态？ |
| 答： |
能。万深检测SC系列种子大米自动数粒分析仪在统计种子各分类数量和总数的同时，自动测出各种子的面积、长轴、短轴、圆度、长宽比等形态信息。 |
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可进行深层次的种子分析吗？ |
| 答： |
能。万深检测SC系列种子大米自动数粒分析仪采用高分辨率成像，强化视野景深和透视效果，对深层种子也能清晰成像，以便实现深层种子数粒分析。 |
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观察皿边缘附近的种子如何统计？ |
| 答： |
万深检测SC系列种子大米自动数粒分析仪可让用户选择是否统计边缘附近的种子。对个别遗漏的边缘种子，可由鼠标点击添加。 |
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万深检测SC系列种子大米自动数粒分析仪能分析的最小种子为多少？ |
| 答： |
最小可以检测直径0.3mm的种子，如：非常细小的花卉种子。 |
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能否看清各种子的表面结构？ |
| 答： |
万深检测SC系列种子大米自动数粒分析仪，能对种子精确对焦。扫描仪型通过局部超高分辨率成像，还能看清种子表面的皱折、凹陷，边缘锯齿等细节。 |
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对粘连种子或链状种子，如何处理？ |
| 答： |
万深检测SC系列种子大米自动数粒分析仪可对复杂粘连或链状种子进行自动分割，这是【万深】技术的重要特点。国内外其它同类产品均无法自动分割。 |
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观察皿中的小杂质会被统计在内吗？ |
| 答： |
观察皿中的小气泡与种子相比，通常更细小、更亮。使用万深检测SC系列种子大米自动数粒分析仪时，可通过杂质筛选去掉这些。比如：在【设置】栏将【最小限制】定在200，就可自动滤除200像素以下的杂点。 |
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万深检测SC系列种子大米自动数粒分析仪，如何识别杂质？ |
| 答： |
用鼠标点取杂质来去除，调节光源，将低对比度的杂质去除，调节种子直径的上下界限值（在设置栏内）来去除，或先对空的观察皿计数作为对照该参考来去除。 |
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万深检测SC系列种子大米自动数粒分析仪可处理多大的观察皿？ |
| 答： |
万深检测的SC-I种子大米自动数粒分析仪能计数90mm～120mm的观察皿。而采用SC-E则可以分析A4幅面内的任何光滑种子。 |
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如何进行个别种子的精确测量？ |
| 答： |
选择自动测量或通过鼠标拖动来精确测量(可使用跟踪放大镜功能)。为了高精度分析个别种子，可以将扫描分辨率提高到600dpi来成像。 |
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周围光线是否影响计数结果？ |
| 答： |
建议不要让强光直射到分析平皿上。在进行垩白分析时，最好在暗室内进行，或给成像仪加上遮光布罩。 |
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每个种子观察皿的统计结果要再手工输入电脑吗？ |
| 答： |
不用。取得统计结果后，点击[保存]图标按钮，数据会连同时间、操作者等信息被自动保存。用户可输入分析平皿编号以方便查询。 |
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本种子计数仪需要怎样的工作环境？ |
| 答： |
该种子计数仪采用特制环形冷光源，工作环境温度5～35 ℃ , 相对湿度≤80%，通风良好, 无强光直射平皿支撑面。为了标准的一致性，最好在相对较暗的室内进行分析。 |
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使用本种子计数分析仪，需要注意哪些事项？ |
| 答： |
在使用中，需要避免仪器被强烈振动，并远离液体、水等导电体。需要保证摄像头镜头，以及放平皿的圆形玻璃片上干净无尘。必要时，用擦镜纸或麂皮轻柔擦拭。每次使用完毕后，最好给仪器套上防尘罩。
另外，用超强磁铁吸附在本种子计数仪灯箱侧面的挡光板，是为了避免强光直射而设计的，您需要根据现场的光线情况来决定是否要加，以及其摆放的位置。系统具有自学习功能，平时做计数操作时，要注意保存好其学习获得的各项参数，以便日后遇到同类种子可以被调出来重用。随着种子参数学习积累的增加，本系统的使用效率将会成倍提高。 |
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分析同类样品时，如何进一步提高检测稳定性？ |
| 答： |
建议采用向导的“一键”操作。选择处理同类样品的向导项，点“一键”操作。在图标菜单处出现[下一步]时，点[下一步]，系统会自动计算出[整精米]指标。若您录制的操作向导内容包含了[垩白分析]，则再点[下一步]将进行垩白分析。所以，同类样品的一致性非常好的，没有问题的。
在点[下一步]前，允许您介入手动分割。垩白在用[向导]一键操作时，允许你对其进行核对修改的。自动计算仅起到精确辅助的效果。 |
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同样一粒米，为何放在中心部位比放在边上要大一点？ |
| 答： |
中心米粒面积略大，是因拍照时的背光亮度不够强，导致中心亮度比边上的低。建议：背光亮度再调亮点，如：+20，该问题就会被消除。背光一致后，才能测垩白，所以要高性能测垩白、透明度和白度，最好选用SC-E型。 |
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SC-E型与SC-I型各有何特点？ |
| 答： |
SC-E型成像比较慢（扫描）、但分析面积大（加长A4幅面）、成像更均匀，可用大样本(30g米)来分析整精米率、垩白参数。对用户而言，该款所选扫描仪是国际知名大品牌，其包装、硬件售后更到位。SC-I型的特点：成像比较快（拍照）、但分析面积小（样本量小，110mm直径范围内）、目前的成像略微不如扫描的均匀。对用户而言，成像系统因小批量研制的，从外观到包装都不如大品牌的好看。国家稻米品质检验检测中心，这2个型号都有，哪个用起来方便，就用哪个的，比如：用SC-I型测粒形，用SC-E型测整精米率、垩白参数（其测出粒形参数，可进一步左证SC-I型测得的粒形参数）。 |
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SC-I型的摄像头驱动程序安装，遇到需要Windows XP Service Pack 1或Pack 2补丁包，如何办？ |
| 答： |
目前Windows XP装机后，一般自动就带有Windows XP Service Pack 3，其是向下兼容的。所以，没必要再安装Windows XP Service Pack 1或Pack 2补丁包。针对驱动程序没法继续安装的问题，可以在【设备管理】中，先将该USB设备卸载掉，然后再添加。只要在【驱动程序更新】栏，打开摄像头驱动所在目录，做添加驱动，即可完成全部安装。 |
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能检测大米的透明度吗？如何提高垩白分析等的检测正确性、稳定性？ |
| 答： |
选专用的SC-E型能做【透明度分析】和【垩白分析】等。采用【彩色+负片】来扫描成像，并在【设置】栏选上【扫描之后灰度化】。定背景提取的提色【容差】为3。非常均匀的扫描成像光源保证了成像的一致性。若要做黄粒米等颜色特性的分析，需采用【彩色+反射稿】来扫描成像，在【设置】栏一定不要选【扫描之后灰度化】，定背景提取的提色【容差】为55～65。为确保结果稳定正确，应取3次重铺米样后分析结果的平均值。若要用【批量处理】，请将图像保存为.png格式。 |
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操作过程中，若遇到问题，如何获得最贴切的【远程协助】？ |
| 答： |
【万深】有多种方式来远程协助您的工作。方法1：请点QQ上面的【应用】（若是QQ2009，则在最右侧图标上），再点【远程协助】图标，当您被【接受】连上后，您再点在右侧的【申请控制】。当您被【接受】后，【万深】就能在您的电脑上“手把手”地替您操作了（请您不要动鼠标和键盘）。若您不想再受控操作，请用鼠标点右侧的取消【申请控制】和【断开】按钮。更多内容，请见QQ帮助里的【远程协助】指导。方法2：您用我们提供的【屏幕录像】软件来记录您的操作，然后压缩发我们，我们根据该录像给出恰当指导。 |
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SC系列分析系统能快速、有效地分析不完善粒、黄米粒、杂质、碎米粒吗？ |
| 答： |
能。可通过【颜色、形状、大小、长宽比等】参数来限制判定范围，计算得出分析结果。可将其分析设置参数保留或加载。不完善粒、黄米粒、杂质、碎米粒的选取和计算方法，操作被大大简化，而且是通用的，仅点取5～6个代表样，即可获得精确分析结果。分析结果可以导出至EXCEL表。 |
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我们稻谷考种的工作量巨大，精准度要求非常高，如何选择？ |
| 答： |
因考种只要求出稻谷的精准粒数，而不要求其形状参数，请选用SC-E型，其可进行大面积地成像分析（A4幅面，可分析计数30克稻种），可用300dpi分辨率来成像分析，并在【设置】栏将最小限制定在350像素左右、选上【秕谷开口识别】，就能自动使千粒稻种的考种分析速度压缩至20秒内，通过快速评估修正的自动二次学习，可使修正后的分析精度接近100%正确。对结果按长宽比排序，点击长宽比列表的最小值部分，可快速核对分析结果。由可精益求精的特征自动二次学习，并通过【批量处理】操作，可大量实现同类目标对象的自动分类分析。 |
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我们用中晶的ScanMaker i800扫描仪遇到成像不清或模糊时，怎么办？ |
| 答： |
您可以尝试将扫描模式从【负片】改成【反射稿】来扫描1张后，再改回【负片】进行扫描。因这类改换会使扫描仪自动校正其扫描头，从而达到自动校正的目的和效果。中晶的ScanMaker i800扫描仪是全国联保的，若还有问题，您可以打其公司的免费维护服务电话联系咨询其解决方案。 |
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每年大量地考种，需要耗费我们很多精力。有何建议？ |
| 答： |
您可选择【万深】的SC-E型来考种，其每次扫描能成像30克稻谷、小麦等颗粒。先将种子图像全部扫描在一个目录下，再点【批量处理】选合适的向导自动完成分析与结果输出。16分钟能自动完成106批样品（约12万粒种子）的考种，并存放到EXCEL表内。分析小麦等的千粒重，可采用【灰阶+负片】来成像分析。 |
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做透明度选取整米时，点取的地方不同，分析结果的重复性会有很大波动吗？ |
| 答： |
应该不会。测透明度，要选取分析区中的全部整米（被选者会自动被标记成绿色矩框）。最快的办法是直接取最短的同类型整米，一下就全部选定了，再浏览核查一遍就可点【垩白】继续分析。 |
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对稻种进行全自动考种，还要分析实粒数、秕谷粒数、结实率。你们仪器能做吗？ |
| 答： |
以往采用的风选称重法来评价结实率，不科学。因为同重量的秕谷与实粒的对应粒数差很多。SC系列分析仪采用透光率的不同来判断秕谷粒和实粒数，能客观真实地反映结实率。【批量处理】自动计算特性中，新增了【秕谷粒率】，以便在分析稻种时自动获得【总粒数、实粒数或秕谷粒数】指标。在录制【批量处理向导文件】时，您所点选的典型实粒或者秕谷，将被自动作为批量处理时的分析依据。 |
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稻种考种中分析秕谷率，如何安排成像方式？ |
| 答： |
应该优先选用彩色成像，因人的视觉对色彩变化比较敏感。原则上只要将实粒与秕谷区在颜色上分得开，正片、负片、反射稿成像均是可以的。一般而言，对大米透明度高的，可选用【反射稿】成像；对大米透明度低的，可选用【正片】成像。以便于拉开实粒与秕谷的对比差异。 |
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软件升级需要付费么？ |
| 答： |
所有【万深】产品均自带可持续的产品在线升级自动服务系统，升级完全免费。只要您的SC系列硬件和操作系统兼容。 |
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分析出来的黄粒米数据偏大一点，如何调整分析参数的设置？ |
| 答： |
【万深】向导自动分析出来的结果是包含病斑粒的，您可核对图像来看。若您仅要【黄粒米】的数据，可将黄粒米【设置】栏中的【黄色程度】值定在95%左右，【黄粒面积】值定在20～30%左右，【黄粒亮度】值定在75～85%左右，再点其左侧的【识别】即可。 |
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分析秕谷率时，个别开了口的1粒秕谷被自动分割成2粒，如何办？ |
| 答： |
【万深】系统的【处理】栏中，有分割【合并】特性，您可在【计数】后，对比查看分析结果，点【合并】按钮后通过交互操作，将割碎的秕谷还原成整粒。若在【设置】栏中选上【秕谷开口识别】，能极大地减少开口秕谷被分割成2粒的情况出现。请注意：在分析大米等时，不能选上【设置】栏中的【秕谷开口识别】。 |
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用【自动学习】的分类识别，我们感到很好用。若想人工监视再来微调结果，能做吗？ |
| 答： |
【万深】系统具有【类型转换】特性，可对自动学习后的分类结果，再做微调，以确保结果100%正确。系统新增加了类别转换之后的自动二次学习，以确保与专家的判断一致。 |
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稻谷通常包含秕谷，其实粒的千粒重是如何自动测出的？ |
| 答： |
该系统具有样本条码、电子天平RS232重量数据的自动输入接口，电脑插上条码枪即可刷入样本编号；按电子天平上【打印】键，即可输入样本重量。依系统自动算出的稻谷粒数，便可自动获得千粒重（包含秕谷粒的，不是实粒千粒重）。通过对该类稻谷秕谷的自动学习，点【类型识别】可自动分别标识出对应稻谷的实粒、秕谷目标，从而，折算掉混入的秕谷重量，自动算出实粒千粒重。对应传统人工数粒和称重的方法而言，【万深】系统的实粒千粒重分析测量误差可小于0.5%。 |
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玉米的整穗、粒形、截面等的测量参数比较特别，【万深】SC-E分析系统能自动测吗？ |
| 答： |
能。自动测出：粒数（图像中所有种子的数量）、粒长（胚尖方向的长度）、粒宽（粒长垂直方向的长度）。胚尖不明显的种子不测定长宽，种子的长宽最后以有胚尖的种子长宽平均计算。可自动获得穗长、穗粗、秃尖长（其位置可编辑调整）、左右穗缘角、穗行角、平均粒高，包括所测的每粒宽度、粒色（种子颜色的R、G、B值）等。每粒玉米的高度可以被方便地调节修正。可自动获得籽粒排数、穗粗、轴粗，以及截面上的平均粒长、平均粒宽参数。其中，粒排数=果穗中部截面图一圈的籽粒数量；穗粗=果穗外接圆的直径；轴粗=轴线圆的直径；粒长=（果穗外接圆的直径-胚尖位置线圆直径)/2；粒宽=(果穗外接圆周长+胚尖位置线圆周长)/2/籽粒排数。胚尖位置线用胚栽入线和轴线的平均获得。 |
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我们将电子天平用RS232串口线接到台式电脑的对应口上了，为何不能自动传输称重数据？ |
| 答： |
要实现电子天平与电脑的自动通讯，需要在天平上做设置的，只要保证天平串口的基本设置与软件中的设置参数全部一致即可。例如，对某电子天平的设置：按【去皮】键3秒以上直到进入【设定模式】。显示屏出现“P.OFF .0”,再按3下【打印】键出现“bAUd”，重复按【转换】键选波特率9600，设定完毕，按【去皮】键切换到称重方式。按【去皮】键进入设定模式，按【打印】键数次，出现“PAC 0”指8位数据位，无校验位。按【去皮】键进入设定模式，按【打印】键数次，出现“SENd 0”（按【打印】键输出数据），按【转换】键后出现“SENd 1”串行接口数据输出为自动方式，其在称重稳定后自动传输给电脑称重数据。按【去皮】键，切换到称重方式。 |
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